Оставьте свои контакты, и мы перезвоним
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь с политикой конфиденциальности
Лабораторный стенд LF-1004
Импульсный твердотельный лазер на кристалле Y3Al5O12:Nd с активной модуляцией добротности
Импульсный твердотельный лазер на кристалле Y3Al5O12:Nd с активной модуляцией добротности
· Импульсная лазерная генерация
· Активная модуляция добротности
· Акустооптический модулятор
· Основы сборки и юстировки импульсных лазеров
· Полупроводниковая накачка
· Визуализация инфракрасного излучения
· Активная модуляция добротности
· Акустооптический модулятор
· Основы сборки и юстировки импульсных лазеров
· Полупроводниковая накачка
· Визуализация инфракрасного излучения
Метод модуляции добротности позволяет получать лазерную генерацию в виде коротких импульсов (длительностью от нескольких наносекунд до нескольких десятков наносекунд) с высокой пиковой мощностью (от нескольких мегаватт до нескольких десятков мегаватт). Типичные области применения таких лазеров, обработка материалов (например, резка, сверление, лазерная маркировка), накачка нелинейных преобразователей частоты, дальномеры и дистанционное зондирование.
В настоящей работе осуществляется сборка макета импульсного твердотельного лазера на кристалле Y3Al5O12:Nd работающего в режиме активной модуляции добротности. В качестве акустооптического модулятора (АОМ) используется модулятор на основе кристаллического кварца с просветляющими боковыми сторонами на длину волны генерации излучения 1064 нм.
В настоящей работе осуществляется сборка макета импульсного твердотельного лазера на кристалле Y3Al5O12:Nd работающего в режиме активной модуляции добротности. В качестве акустооптического модулятора (АОМ) используется модулятор на основе кристаллического кварца с просветляющими боковыми сторонами на длину волны генерации излучения 1064 нм.
(Лабораторный стенд поставляется в упаковочных кейсах с ложементом, методическим описанием, комплектом крепёжных
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)
(Лабораторный стенд поставляется в упаковочных кейсах с ложементом, методическим описанием, комплектом крепёжных
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)
В составе:
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)
В составе:
1) Лазерный диодный модуль в держателе (P=1 Вт, λ=808 нм), 1 шт.
2) Терминал управления диодным лазерным модулем, 1 шт.
3) Оптический рельс, 1 шт.
4) Коллимирующая линза в держателе, 1 шт.
5) Фокусирующая линза в держателе, 1 шт.
6) Входное плоское зеркало резонатора в держателе, 1 шт.
7) Активный элемент из кристалла Y3Al5O12:Nd в держателе, 1 шт.
8) Акустооптический модулятор в держателе, 1 шт.
2) Терминал управления диодным лазерным модулем, 1 шт.
3) Оптический рельс, 1 шт.
4) Коллимирующая линза в держателе, 1 шт.
5) Фокусирующая линза в держателе, 1 шт.
6) Входное плоское зеркало резонатора в держателе, 1 шт.
7) Активный элемент из кристалла Y3Al5O12:Nd в держателе, 1 шт.
8) Акустооптический модулятор в держателе, 1 шт.
9) Блок управления акустооптического модулятора, 1 шт.
10) Выходное сферическое зеркало резонатора в держателе, 1 шт.
11) Светофильтр в держателе, 1 шт.
12) Фотодетектор, 1 шт.
13) Юстировочный лазер в держателе, 1 шт.
14) Осциллограф цифровой 100 МГц, 1 шт.
15) Диафрагма, 1 шт.
16) Визуализатор лазерного излучения, 1 шт.
10) Выходное сферическое зеркало резонатора в держателе, 1 шт.
11) Светофильтр в держателе, 1 шт.
12) Фотодетектор, 1 шт.
13) Юстировочный лазер в держателе, 1 шт.
14) Осциллограф цифровой 100 МГц, 1 шт.
15) Диафрагма, 1 шт.
16) Визуализатор лазерного излучения, 1 шт.
Дополнительные опции:
Некоторые упражнения, которые позволяет выполнять стенд LF-1004:
· Изучение методики сборки и юстировки твердотельного лазера с диодной накачкой на кристалле YAG:Nd работающего в непрерывном режиме и режиме активной модуляции добротности
· Измерение длительности лазерного импульса
· Изучение методики сборки и юстировки твердотельного лазера с диодной накачкой на кристалле YAG:Nd в режиме активной модуляции добротности с внутрирезонаторным и внерезонаторным преобразованием частоты (при наличии в комплектации расширения второй гармоники)
· Наблюдение пичкового режима лазерной генерации на кристалле YAG:Nd
· Измерение зависимости выходной мощности YAG:Nd лазера от температуры (длины волны) диодного лазера накачки
· Определение дифференциального и полного кпд лазерной генерации (при наличии в комплектации набора выходных зеркал и измерителя мощности)
· Проверка выполнения критерия устойчивости резонатора
· Сборка YAG:Nd лазера на основе различных конфигурация оптического резонатора (при наличии в комплектации расширенного набора зеркал)
· Наблюдение различных типов мод оптического резонатора
· Измерение длины волны лазера на кристалле YAG:Nd (при наличии в комплектации спектрометра)
· Измерение зависимости выходной мощности диодного лазера накачки от температуры (при наличии в комплектации измерителя мощности)
· Измерение зависимости длины волны диодного лазера от температуры (при наличии в комплектации спектрометра)
· Измерение зависимости длины волны диодного лазера от тока инжекции (при наличии в комплектации спектрометра)
· Определение контура спектра поглощения, соответствующего переходу 4I9/2→4F5/2 ионов Nd3+ в кристалле Y3Al5O12:Nd
· Определение времени жизни верхнего лазерного уровня 4F3/2 ионов Nd3+ в кристалле Y3Al5O12:Nd;