Оставьте свои контакты, и мы перезвоним
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь с политикой конфиденциальности
Лабораторный стенд LCP-21
Прибор для экспериментов по интерференции и дифракции
(с компьютерным управлением)
Прибор для экспериментов по интерференции и дифракции
(с компьютерным управлением)
Не требует затемнённого помещения. Поддерживаются различные конфигурации щелей: одиночная, двойная, многократная. Помимо проведения экспериментов по интерференции и дифракции, установка также может использоваться для измерения интенсивности света в других областях.
Эксперименты:
Система использует современный линейный ПЗС-фотоэлектрический датчик с пространственным разрешением 11 или 14 мкм и тысячами пикселей, что обеспечивает минимальную экспериментальную погрешность. Кривая распределения интенсивности дифракционного света фиксируется мгновенно в режиме реального времени, с возможностью непрерывной динамической обработки данных. В отличие от традиционных чётких и тёмных полос, получаемые кривые интенсивности содержат больше физической информации, а графики отличаются высокой детализацией и насыщенностью. Не требуется ручная обработка, такая как склейка отдельных участков графика, что исключает искажения и ошибки. Для поэлементного измерения используется цифровой фотоэлектрический гальванометр, благодаря чему студенты получают богатый практический опыт.
Программное обеспечение для обработки данных обладает широкими возможностями: 12-битное АЦП с разрешением по амплитуде 1/4096, низкая экспериментальная погрешность, цифровая индикация и высокая точность измерения координат светочувствительных элементов и их светового напряжения. Подключение через USB-интерфейс.
Система использует современный линейный ПЗС-фотоэлектрический датчик с пространственным разрешением 11 или 14 мкм и тысячами пикселей, что обеспечивает минимальную экспериментальную погрешность. Кривая распределения интенсивности дифракционного света фиксируется мгновенно в режиме реального времени, с возможностью непрерывной динамической обработки данных. В отличие от традиционных чётких и тёмных полос, получаемые кривые интенсивности содержат больше физической информации, а графики отличаются высокой детализацией и насыщенностью. Не требуется ручная обработка, такая как склейка отдельных участков графика, что исключает искажения и ошибки. Для поэлементного измерения используется цифровой фотоэлектрический гальванометр, благодаря чему студенты получают богатый практический опыт.
Программное обеспечение для обработки данных обладает широкими возможностями: 12-битное АЦП с разрешением по амплитуде 1/4096, низкая экспериментальная погрешность, цифровая индикация и высокая точность измерения координат светочувствительных элементов и их светового напряжения. Подключение через USB-интерфейс.
(Лабораторный стенд поставляется в упаковочных кейсах с ложементом, методическим описанием, комплектом крепёжных
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)
(Лабораторный стенд поставляется в упаковочных кейсах с ложементом, методическим описанием, комплектом крепёжных
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)
В составе:
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)
В составе:
1) Оптический рельс (L = 1 м)
2) Полупроводниковый лазер (P= 3.0 мВт, λ=650 нм), 1 шт.
3) Элемент дифракции: одиночная щель (ширина щели: 0.07 мм, 0.10 мм, 0.12 мм)
4) Элемент дифракции: одиночная проволока (диаметр: 0.10 мм и 0.12 мм)
5) Элемент дифракции: двойная щель (ширина щели: 0.02 мм, расстояние между центрами: 0.04 мм)
6) Элемент дифракции: двойная щель (ширина: 0.07 мм, расстояние: 0.14 мм)
2) Полупроводниковый лазер (P= 3.0 мВт, λ=650 нм), 1 шт.
3) Элемент дифракции: одиночная щель (ширина щели: 0.07 мм, 0.10 мм, 0.12 мм)
4) Элемент дифракции: одиночная проволока (диаметр: 0.10 мм и 0.12 мм)
5) Элемент дифракции: двойная щель (ширина щели: 0.02 мм, расстояние между центрами: 0.04 мм)
6) Элемент дифракции: двойная щель (ширина: 0.07 мм, расстояние: 0.14 мм)
7) Элемент дифракции: двойная щель (ширина: 0.07 мм, расстояние: 0.21 мм)
8) Элемент дифракции: двойная щель (ширина: 0.07 мм, расстояние: 0.28 мм)
9) Элемент дифракции: тройная щель (ширина: 0.02 мм, расстояние: 0.04 мм)
10) Элемент дифракции: четверная щель (ширина: 0.02 мм, расстояние: 0.04 мм.
11) Элемент дифракции: пятикратная щель (ширина: 0.02 мм, расстояние: 0.04 мм)
8) Элемент дифракции: двойная щель (ширина: 0.07 мм, расстояние: 0.28 мм)
9) Элемент дифракции: тройная щель (ширина: 0.02 мм, расстояние: 0.04 мм)
10) Элемент дифракции: четверная щель (ширина: 0.02 мм, расстояние: 0.04 мм.
11) Элемент дифракции: пятикратная щель (ширина: 0.02 мм, расстояние: 0.04 мм)
Опционально:
12) Фотоэлементный детектор (включая шкалу с шагом 0.1 мм и усилитель, подключённый к гальванометру)
13) ПЗС-датчик (включая шкалу с шагом 0.1 мм и усилитель, подключённый к гальванометру)
14) ПЗС-датчик (с синхронизацией и сигнальными портами, подключается к осциллографу)
15) ПЗС-датчик с программным обеспечением (блок сбора данных и ПО для подключения к ПК через USB)
13) ПЗС-датчик (включая шкалу с шагом 0.1 мм и усилитель, подключённый к гальванометру)
14) ПЗС-датчик (с синхронизацией и сигнальными портами, подключается к осциллографу)
15) ПЗС-датчик с программным обеспечением (блок сбора данных и ПО для подключения к ПК через USB)
Дополнительные опции: