Оставьте свои контакты, и мы перезвоним
Нажимая на кнопку, вы соглашаетесь с политикой конфиденциальности
Лабораторный стенд LCP-27
Измерение интенсивности дифракции
Измерение интенсивности дифракции
Экспериментальная система состоит из нескольких основных компонентов: источника света, дифракционной пластины, регистратора интенсивности, компьютера и программного обеспечения для управления. Благодаря интерфейсу с компьютером, система может использоваться как дополнительный модуль к оптическому стенду или как самостоятельная экспериментальная установка.
Система оснащена фотоэлектрическим датчиком для измерения световой интенсивности и высокоточным датчиком перемещения. Линейка с отсчётом по решётке позволяет точно измерять перемещения и распределение интенсивности дифракции. Управление сбором и обработкой данных осуществляется с помощью компьютера, а полученные результаты можно сравнивать с теоретическими расчетами.
Система оснащена фотоэлектрическим датчиком для измерения световой интенсивности и высокоточным датчиком перемещения. Линейка с отсчётом по решётке позволяет точно измерять перемещения и распределение интенсивности дифракции. Управление сбором и обработкой данных осуществляется с помощью компьютера, а полученные результаты можно сравнивать с теоретическими расчетами.
Эксперименты:
1.Исследование дифракции на одиночной щели, многослойной решётке, отверстиях и множестве прямоугольных апертур. Анализ изменения интенсивности дифракции в зависимости от экспериментальных условий.
2. Запись относительной интенсивности и её распределения для одиночной щели с помощью компьютера. Расчёт ширины щели по полученным данным о дифракционной картине.
3. Наблюдение распределения интенсивности дифракции для многослойной решётки, прямоугольных и круглых отверстий.
4. Наблюдение дифракции Фраунгофера на одиночной щели.
5. Определение распределения световой интенсивности.
1.Исследование дифракции на одиночной щели, многослойной решётке, отверстиях и множестве прямоугольных апертур. Анализ изменения интенсивности дифракции в зависимости от экспериментальных условий.
2. Запись относительной интенсивности и её распределения для одиночной щели с помощью компьютера. Расчёт ширины щели по полученным данным о дифракционной картине.
3. Наблюдение распределения интенсивности дифракции для многослойной решётки, прямоугольных и круглых отверстий.
4. Наблюдение дифракции Фраунгофера на одиночной щели.
5. Определение распределения световой интенсивности.
(Лабораторный стенд поставляется в упаковочных кейсах с ложементом, методическим описанием, комплектом крепёжных
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)
(Лабораторный стенд поставляется в упаковочных кейсах с ложементом, методическим описанием, комплектом крепёжных
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)
В составе:
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)
В составе:
1) He-Ne лазер (P= >1.5 мВт, λ = 632.8 нм)
2) Одиночная щель (регулируемая ширина от 0 до 2 мм, точность 0.01 мм)
3) Диапазон измерения изображения (щель шириной 0.03 мм, интервал между щелями 0.06 мм)
4) Проекционная опорная решётка (щель шириной 0.03 мм, интервал 0.06 мм)
5) ПЗС-система (щель шириной 0.03 мм, интервал 0.06 мм)
6) Макрообъектив (силиконовый фотоэлемент)
7) Источник переменного тока
2) Одиночная щель (регулируемая ширина от 0 до 2 мм, точность 0.01 мм)
3) Диапазон измерения изображения (щель шириной 0.03 мм, интервал между щелями 0.06 мм)
4) Проекционная опорная решётка (щель шириной 0.03 мм, интервал 0.06 мм)
5) ПЗС-система (щель шириной 0.03 мм, интервал 0.06 мм)
6) Макрообъектив (силиконовый фотоэлемент)
7) Источник переменного тока
Дополнительные опции: