Лабораторный стенд EDU-AFM1/M
Атомно-силовой микроскоп
· Предназначен для образовательных, демонстрационных и учебных целей;
· Стенд включает всё оборудование и инструменты (компьютер не входит в комплект);
· Включает подробное руководство для удобной сборки и использования;

В экспериментальной части Вы изучите следующие темы:
· Соберете атомно-силовой микроскоп;
· Изучите фундаментальные силы, действующие между атомами на конце зонда и поверхностью образца;
· Узнаете больше о контроле движения с нанометровой точностью и явлении гистерезиса при использовании пьезоэлектрических приводов;
· Разберетесь в принципах различных методов сканирования, таких как режим постоянной высоты и постоянной силы;
Лабораторный стенд EDU-AFM1/M «Атомно-силовой микроскоп» включает все необходимые компоненты, позволяющие студентам самостоятельно собрать базовый атомно-силовой микроскоп в лаборатории. Эта учебная система позволяет участникам управлять установкой и настраивать её в процессе проведения экспериментов по сканированию одного из входящих в комплект образцов. Несмотря на то, что микроскоп не является прибором исследовательского класса, он обеспечивает достаточное разрешение для демонстрации физических принципов и технологий, используемых в атомно-силовой микроскопии. Микроскоп поддерживает сканирование в режимах постоянной высоты, постоянной силы и латеральной силой, а также запись кривых «сила-расстояние».

Помимо компонентов микроскопа, учебный комплект включает:
• Интуитивное программное обеспечение для управления микроскопом с ПК с операционной системой Windows;
• Калибровочный образец с микроструктурой;
• 10 зондов для контактного режима атомно-силового микроскопа;
• Образцы CD, DVD и Blu-Ray дисков;
• Подробное руководство с инструкциями по сборке микроскопа, теоретическим материалом и заданиями для студентов

Вместе эти особенности делают лабораторный стенд EDU-AFM1/M «Атомно-силовой микроскоп» универсальной, практико-ориентированной системой, идеально подходящей для знакомства студентов старших курсов с атомно-силовой микроскопией.
Для работы атомно-силового микроскопа требуется оптический стол, который не входит в комплект. Если в вашей лаборатории нет подходящей основы, мы рекомендуем использовать оптический стол с сотовым заполнением и демпфирующие опоры, которые можно приобрести отдельно. Не используйте стандартную алюминиевую плиту, поскольку она не обеспечивает достаточной виброизоляции для микроскопа.
Детали стенда:
Учебный и демонстрационный лабораторный стенд «Атомно-силовой микроскоп» разработан для использования в учебных аудиториях, лабораториях и других образовательных целях. Он включает в себя зонд, держатель образца на моторизованной платформе с замкнутым контуром позиционирования, и четырехсегментный фотодиодный детектор для измерения отклонения зонда, а также интуитивно понятное программное обеспечение для управления установкой.
Основы атомно-силовой микроскопии:

Что такое атомно-силовая микроскопия?

Атомно-силовая микроскопия, являющаяся разновидностью сканирующей зондовой микроскопии, предоставляет увлекательные возможности заглянуть в мир структур, лежащих за пределами разрешающей способности оптических микроскопов, а значит — в мир наноструктур. Метод основан на сканировании поверхности при помощи тончайшего зонда, представляющего собой гибкий рычаг (кантилевер) с остриём радиусом менее 10 нм. Когда зонд взаимодействует с поверхностью образца, изгиб кантилевера фиксируется и по этим данным построчно строится рельеф поверхности.

Для корректной работы атомно-силового микроскопа, кантилевер должен соответствовать ряду требований. Он должен обладать низкой жесткостью пружины, чтобы можно было регистрировать даже слабые силы. При этом важна высокая резонансная частота, чтобы уменьшить влияние механических колебаний. Таким образом, кантилевер должен быть одновременно лёгким и миниатюрным.

В стенде EDU-AFM1/M лазерный луч фокусируется на кантилевер с помощью фокусирующей линзы с регулируемым фокусным расстоянием. Отражённый от кантилевера свет попадает на позиционно-чувствительный детектор (четырёхсегментный фотодиод). При сканировании, если высота поверхности изменяется, происходит отклонение кантилевера, и, соответственно, лазерного луча. Эти отклонения фиксируются и обрабатываются цифровым сигнальным процессором. В зависимости от выбранного режима сканирования (описаны ниже), отклонения, зафиксированные фотодиодом, могут использоваться либо как информация о высоте для построения карты поверхности, либо как сигнал обратной связи между цифровым сигнальным процессором и механизмом позиционирования по оси Z, поддерживающим образец. В последнем случае механизм по оси Z регулирует высоту образца так, чтобы изгиб кантилевера оставался постоянным (по данным с четырёхсегментного фотодиода), и изменения в положении образца по Z записываются, формируя карту поверхности.
Упражнения:
После того как студенты соберут учебную модель атомно-силового микроскопа, они могут выполнить серию упражнений, описанных в руководстве, чтобы освоить различные методы сканирования и познакомиться с постобработкой данных.
Лабораторный стенд EDU-AFM1/M
Атомно-силовой микроскоп, 1 шт
По запросу
RUB
(Лабораторный стенд поставляется в упаковочных кейсах с ложементом, методическим описанием, комплектом крепёжных
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)


Лабораторный стенд EDU-AFM1/M
Атомно-силовой микроскоп, 1 шт
По запросу
RUB
(Лабораторный стенд поставляется в упаковочных кейсах с ложементом, методическим описанием, комплектом крепёжных
элементов, набором для чистки оптики и инструментами)

В составе:
1) Лазер с резонатором Фабри-Перо, длина волны излучения 635 нм, мощность излучения 2.5 мВт, 1 шт.
2) Соединительный оптоволоконный кабель, одномодовое оптоволокно, 1 м, диапазон рабочих длин волн: 633 - 780 нм, 1 шт.
3) Оптоволоконный коллиматор, рабочая длина волны: 633 нм, фокус: 18.24 мм, числовая апертура: 0.15, 1 шт.
4) Кинематический держатель тонких оптических элементов Ø25.4 мм, 1 шт.
5) Тубус для крепления линз со стопорным кольцом, 1 шт.
6) Тубус с возможностью смещения оптических элементов Ø12.7 мм вдоль оптической оси без вращения, 1 шт.
7) Адаптер для цилиндрических компонентов Ø11 мм, 1 шт.
8) Плоско-выпуклая линза из стекла N-BK7, диаметр Ø12.7 мм, f = 50.0 мм, просветляющее покрытие: 350-700 нм, 1 шт.
9) Позиционно-чувствительный детектор на основе квадрантного фотодиода, диапазон рабочих длин волн: 400 - 1050 нм, 1 шт.
10) Автоматизированная система контроля смещения K-Cube, для работы с позиционно-чувствительными детекторами, источник питания не входит в комплект поставки, 1 шт.
11) Кинематический держатель с многоосной регулировкой положения элемента, число осей: 6, 1 шт.
12) Крышка с внешней резьбой для тубусов Ø12.7 мм, 1 шт.
13) Переходник с внешней резьбой и внутренней резьбой, толщина: 3.8 мм, 1 шт.
14) Тубус для крепления линз с одном стопорное кольцо, глубина резьбы: 25.4 мм, 1 шт.
15) Переходник для соединения компонентов, внешняя резьба, длина: 12.7 мм, 1 шт.
16) Тубус для крепления линз с одним стопорным кольцом, глубина резьбы: 12.7 мм, 2 шт.
17) Плоско-выпуклая линза из стекла N-BK7, диаметр Ø25.4 мм, f = 40.0 мм, просветляющее покрытие: 350-700 нм, 1 шт.
18) Светорассеиватель из матового стекла, Ø12.7 мм, 2 шт.
19) Тубус с внешней резьбой для регулировки положения оптических элементов Ø25.4 мм, макс. длина смещения: 7.9 мм, 1 шт.
20) Тубус для крепления линз с одним стопорным кольцом, глубина резьбы: 7.6 мм, 2 шт.
21) Опора с демпфированием, диаметр Ø38.1 мм, длина 203.2 мм, 1 шт.
22) Монтажный зажим 64 мм x 64 мм, 1 шт.
23) Адаптерная пластина, 1 шт.
24) Хомут для фиксации и регулировки высоты крепления элементов на стержне, 1 шт.
25) Многоосная платформа с 3 регулируемыми координатами, дифференциальными приводами и пьезоактуаторами с обратной связью, 1 шт.

27) USB концентратор для контроллеров и источник питания для 6 устройств серий K-или T-Cube, 1 шт.
28) Стандартный держатель волноводов, ширина: 35 мм, 1 шт.
29) Монтажный кронштейн, длина поверхности монтажа: 56 мм, 1 шт.
30) Монтажный блок, 1 шт.
31) Кинематическое основание 25 мм x 25 мм, 1 шт.
32) Держатель зонда, 2 шт.
33) Пинцет, 1 шт.
34) Образец калибровки: BudgetSensors HS-100MG, 1 шт.
35) Консоль с алюминиевым покрытием (коробка из 10 шт.), 1 уп.
36) SMA коаксиальный кабель, штекерный разъем SMA и штекерный разъем BNC, длина: 609 мм, 3 шт.
37) Цифровой микроскоп, 1 шт.
38) Экран, 1 шт.
39) Стержень с основанием для крепления прижимом, диаметр: 12 мм, длина: 29.7 мм, 1 шт.
40) Прижим для крепления миниатюрных стержней, 1 шт.
41) Блок для крепления элементов на стержнях под углом 16°, 1 шт.
42) Многофункциональное устройство ввода-вывода, 1 шт.
43) Кабель BNC, 3 шт.
44) Привинчивающиеся стяжки кабеля (15 шт.), 1 уп.
45) Кабель-канал, 1 шт.
46) Прижим для фиксации оптических рельс, 4 шт.
47) Образец CD диска, 1 шт.
48) Образец DVD диска, 1 шт.
49) Образец Blu-ray диска, 1 шт.
50) Линейка, 1 шт.
Дополнительные опции:
Учебный оптический стол ОТ750-1200 с дополнительным оснащением (полка, защитные экраны), 1 шт.